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全聚焦合成孔径超声成像技术

发布日期:2018-12-13 18:15:58

以64晶片阵列探头为例,被检测材料中任意质点会几乎同时被64个晶片分别检测到64次。也就是说,材料中的缺陷会被采集到64*64个反射波信号。这些信号通过时延后进行聚焦合成,获得超高信噪比和超高的分辨率信号。

只要单个晶片发射出的球面波到达的地方,都会被检测到。盲区更小、探头位置更加不敏感、可检测的结构更复杂。


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